| Birkaç angstromdan mikronlar mertebesine film kalınlığı hesaplaması | |
| Numunede optik sabit ve optik bandgap (n,k) özelliklerinin bulunması | |
| Kampound aloy kompozisyonu,porozite, kristalinite ve anistropi gibi malzeme özelliklerinin belirlenmesi | |
| Gerçek zamanlı film oluşumu ve izlenmesi ve hızlı kinetik ölçümleri | |
| UV'den NIR bölgeye kadar çalıştırabilme özelliği | |
| Seçilen dalga boyunda 1ms/1 spot ölçüm hızında çalıştırabilme özelliği | |
| Kolay kullanım,190-2100 nm spectral aralığı |
